iPhone 17屏下Face ID感应技术深度解析
摘要
iPhone 17 的屏下 Face ID 终于从实验室传闻走向量产落地。这次苹果整合了光学、封装与芯片
iPhone 17 的屏下 Face ID 终于从实验室传闻走向量产落地。这次苹果整合了光学、封装与芯片协同的完整架构,目标不是炫技,而是实现真正“正面无痕”的全面屏。通俗讲:未来你从正面看到的,只有一颗极小的前摄开孔,其余全是显示区域,Face ID 模组完全隐藏于屏幕之下。

要理解这项技术的底层改动,需拆解为四个核心技术环节。
微孔阵列+折射率匹配粘合剂:为红外光开辟“透明通道”
点阵投影器需向人脸投射约3万个红外光点,这是 Face ID 正常工作的前提。但 OLED 屏幕本身是光学屏障,会严重衰减或散射红外光。解决方案是在屏幕对应区域实施微加工:
- 在 OLED 基板上蚀刻与投影单元精确对齐的微米级开口阵列,开口直径仅数微米,肉眼不可见
- 用折射率接近玻璃与 OLED 层的压敏粘合剂填充微孔,消除界面反射,使 850nm 红外光穿透率显著提升
- 点阵投影芯片紧贴粘合剂层下方安装,确保光线垂直出射,避免任何畸变与光损
简单说,为红外光在屏幕上开凿了一条“隐形通道”,不影响显示效果。
倒装芯片+硅通孔封装:泛光感应元件实现“背照式”重生
泛光感应元件通常正对人脸接收漫反射光,一旦隐藏于屏下,必须朝向屏幕外侧。传统封装方式无法适应这种新位置。因此采用以下工艺:
- 倒装芯片技术:将感光晶粒翻转,使像素阵列直接朝向屏幕背面,绕过 OLED 基板的遮挡
- 硅通孔引线:信号垂直穿过硅基底引出,路径更短,噪声更低,响应速度更快
- 表面覆盖红外增透膜:针对 850nm 波段优化,光子捕获效率提升超 35%
为何如此大费周章?不翻转,信号根本无法有效穿透屏幕。
超构表面+混合镜片:微型化红外成像系统突破物理极限
在不到 0.8mm 的厚度内同时维持 F/2.0 大光圈与高分辨率,传统镜片设计已触及瓶颈。iPhone 17 首次在手机 Face ID 中商用超构表面技术:
- 衍射光学元件(DOE)被超构表面替代,传统多层衍射光栅体积缩小 40%,衍射效率提升至 92%
- 红外镜头采用四片混合堆叠:三层非球面玻璃校正像差与热漂移,一层高折射率塑料完成最终像面定位
- 所有镜片表面镀多层红外增透膜,配合 A18 Pro 芯片内置专用红外 ISP 流水线,实现 1280×960@20ms 的深度建模
这套系统将“小尺寸”与“高性能”这对矛盾体,通过材料科学与精密光学完美统一。
共腔集成+时分复用:环境光与距离传感一体化设计
为节省屏下空间并减少光学串扰,环境光传感器(ALS)与距离传感器(PS)被整合进同一光学腔体:
- 共享微型准直透镜与镀膜棱镜,入射光按波段自动分离——可见光导向 ALS,近红外导向 PS
- 双通道光电二极管阵列共用封装基底,尺寸压缩至 1.2×1.2mm²
- 通过时分复用电路交替工作,单次解锁周期内同时完成光照强度检测、距离判定与活体验证
更关键的是,这种集成设计还解决了以往因传感器位置偏差导致的校准问题,信号一致性反而优于分立方案。
总体来看,iPhone 17 的屏下 Face ID 绝非简单“塞入模组”,而是从芯片封装到光学系统的一次彻底架构重组。真·隐藏式三维面部识别,至此正式进入商用阶段。
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